表(1)

　　对垂直子系统中的多芯双绞线之衰减测试，其结果不大于表(2)所示的值视为通过。

　　表(2)

　　(3)近端串扰(NEXT)测试

　　近端串扰对本身终接点(跳线架、信息插座)处的非双绞线金属介质很敏感，同时，对粗劣的安装也非常敏感。例如在终点处的不绞线长度至多不能超过13mm(对五类线而言)，或25mm(对四类线而言)等。因此，对NEXT的测试相当重要。

　　NEXT(dB)=20log10Vn/Vi

　　Vi 输入值(也是正常电压值)，Vn是所产生干扰信号，因为 Vn< Vi，下面表中出现的NEXT值实为负数。

　　测试对象：五类产品的联合测试。

　　测试条件：五类线及相关产品实现从1.0MHZ—100MHZ测试，测试温度为20℃—30℃;信息点到配线架距离不超过90米。

　　测试仪器采用美国福禄克公司的FLUKE—200或FLUKE—400测试仪。

　　测试结果：测试结果将显示在仪器上，一般显示通过或不通过，显示的测试结果不应超过

　　(3)所示之值。(注意，表中值为负数)

　　表(3)

　　对垂直子系统中的多芯双绞线之测试，其结果如表(4)所示的值视为通过。

　　表(4)